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ミツトヨがエレクトロテストジャパンに出展
株式会社ミツトヨは、2026年1月21日(水)から1月23日(金)まで、東京ビッグサイトで開催される展示会「第40回エレクトロテストジャパン」に出展するとのことです。
エレクトロテストジャパンは、RX Japan株式会社が主催するエレクトロニクス製品の検査・試験・測定をテーマとした展示会です。ミツトヨは、同展示会にて電子・電気・半導体製品の生産性向上を実現する様々なソリューションを提案します。
展示コンセプトと来場登録について
ミツトヨブースのコンセプトは「高度化する“はかる” に挑む画像測定のミツトヨ」とのことです。展示会への来場を希望する方は、事前に主催者ホームページにて来場事前登録（無料）が必要となります。
出展製品の概要
ミツトヨは、以下の製品を中心に出展します。
- 非接触3D計測システム クイックビジョンWLI Proシリーズ：白色光干渉（光の波の性質を利用した非接触測定方法）による微細形状や表面性状の評価を提案します。
- CNC画像測定機 クイックビジョンProシリーズ：ハイスループット測定（短時間で大量のデータを測定する方法）による測定効率の向上に貢献するシステムです。
- 白色光干渉光学ユニット WLI-Unit：白色光干渉による3D形状測定を手軽に導入できるソリューションです。
- 白色干渉測定用対物レンズ WLI Plan Apoシリーズ：WLI-Unitと組み合わせて使用するレンズです。
- 装置組込顕微鏡ユニット VMUシリーズ：様々な観察法に対応するラインアップで、アプリケーションの例を紹介します。
- 焦点距離可変レンズ TAGLENS：全焦点撮影を可能にしたレンズで、赤外線対応の顕微鏡システムと組み合わせて、透過観察（物体を光を通して見る観察法）を提案します。
開催概要
展示会名：第40回エレクトロテストジャパン
会期：2026年1月21日(水)～23日(金)
時間：10:00 ～ 17:00
会場：東京ビッグサイト
小間番号：E17-32（東5ホール）
入場料：無料（事前登録制）
主催：RX Japan株式会社
主催HP：https://www.nepconjapan.jp/tokyo/ja-jp/about/et.html
Ms.ガジェット詳細情報や来場事前登録については、主催者ホームページをご確認ください。最新情報も随時更新されるかと思いますので、役立つでしょう。
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