HIOKI、TECHNO-FRONTIER 2026に出展。最新の計測技術を披露

展示会概要とHIOKIの出展目的

HIOKIは、2026年7月15日（水）から7月17日（金）まで、東京ビッグサイトで開催される「TECHNO-FRONTIER 2026 第5回 パワーエレクトロニクス技術展」へ出展します。今回の展示では、GaNやSiCといった次世代デバイスの普及に伴い、現場で顕在化している計測課題の解決策を提示するとのことです。

同社は「GaN/SiC時代の『正しく測る』を実現」というテーマを掲げ、専門的な計測ソリューションのデモンストレーションを実施する予定です。開発や生産現場における、より精度の高い計測技術の提案が行われます。

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パワー半導体の進化に合わせて、新しい計測ニーズも生まれているということですね。

展示される主な計測ソリューション

HIOKIのブースでは、以下の4つのテーマを中心にデモンストレーションが展開されます。現場の課題に即した具体的な計測ソリューションが用意されています。

• 低力率時の電力計測（リンギング電力・リアクトル損失）
• モータの潜在不良検出（部分放電検査および電食）
• 電源品質の評価（IEC準拠の電圧変動・フリッカ）
• 熱マネジメント（多種データ同期収集）

これらの技術は、研究開発や生産ラインにおける品質管理に直結する内容となっています。特に、部分放電検査（デュアルモードPD）などの最新技術は、モータの信頼性向上に寄与するものとして説明されています。

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モータの潜在的な不良を検査する技術など、産業現場では非常に重要視される内容ですね。

開催詳細とブース情報

展示会の開催概要は以下の通りとなっています。会場でのデモンストレーションを通じて、技術的な詳細を確認することが可能です。

なお、本イベントは一般社団法人 日本能率協会が主催しています。会場へお越しの際は、HIOKIのブース番号を確認の上、立ち寄ることをおすすめします。

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