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機能試験とHIL試験を支える新たな選択肢
ピカリング インターフェースは、機能試験およびHILアプリケーションの製品ラインナップを強化するため、新たに3種類のPXI/PXIeアナログ出力モジュールを投入しました。これらのモジュールは、リアルなアナログ信号やセンサ環境を再現し、組み込みコントローラの検証を支援します。
高いチャネル密度を誇る設計により、限られたラックスペースでのシステム構築が可能です。また、幅広いシャーシ互換性と充実したドライバサポートを提供しており、自動テストシステムの構築における長期的な陳腐化リスクの低減を目指しています。
Ms.ガジェット試験システムの省スペース化と効率化は、現場のエンジニアにとって大きなメリットになりそうですね。
用途に応じた3種類の新モジュール
今回発表された各モジュールは、特定のシミュレーションタスクに特化した仕様となっています。それぞれの主な特徴は以下の通りです。
| モデル | 主な機能 |
|---|---|
| 41-770 / 43-770 | 最大4チャネルの絶縁型DAC出力、フォールト・インジェクション対応 |
| 41-625 / 43-625 | 最大32チャネルの独立波形発生、DC～300kHz対応 |
| 41-761A | 最大32チャネルの熱電対シミュレーション、μVレベルの高分解能 |
DACモジュールである41-770シリーズは、最大±40Vの電圧出力と±20mAの電流出力をサポートしています。開路状態のシミュレーションにも対応しており、センサ故障や配線不良といった実環境を模した試験が可能です。
Ms.ガジェット故障モードを再現できるフォールト・インジェクション機能は、製品の信頼性を高める上で非常に重要です。
開発効率を高める柔軟なソフトウェアサポート
新製品は、WindowsおよびLinux OSに対応したドライバが提供されます。C、Python、C#、MATLAB、Simulink、LabVIEWなど、主要なプログラミング言語での制御が可能です。開発やデバッグを簡素化するソフト・フロント・パネルも用意されています。
- 独立したメモリブロックへの波形保存
- ダイレクト・デジタル・シンセシス（DDS）による周波数制御
- 熱電対タイプごとの出力範囲を網羅
- 外部スイッチング不要の高密度チャネル実装
汎用の電圧源とは異なり、テスト専用の設計思想により正確な信号挙動を再現しています。これにより、物理的なセンサや環境試験チャンバを使用することなく、高度な自動テスト環境の構築をサポートしています。
Ms.ガジェット多様な言語環境への対応は、既存のテストシステムに統合する際の手間を大きく減らしてくれそうです。
ピカリング、機能試験向けアナログ出力モジュールを拡充
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